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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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簡要描述：雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2025-05-17訪 問 量：846
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雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面、 曲面光學的傾斜角度評估。
Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術(shù)。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調(diào)電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應(yīng)力進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產(chǎn)中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術(shù)被用于評估光學雙折射。
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